Полевой транзистор
Полевые транзисторы с управляющим p–n переходом (Junction FET) описываются моделью Шихмана–Ходжеса в соответствии с эквивалентной схемой, представленной на рис. 4.6,а для транзистора с каналом n-типа [4, 7, 33]. Параметры модели полевого транзистора приведены в табл. 4.3.
Таблица 4.3
Имя параметра | Параметр | Значение по умолчанию | Единица измерения | ||||
VT0 | Пороговое напряжение | –2 | В | ||||
BETA | Коэффициент пропорциональности | 10![]() | А/В | ||||
LAMBDA | Параметр модуляции длины канала | 0 | 1/В | ||||
IS | Ток насыщения p–n-перехода затвор–канал | 10![]() | А | ||||
N | Коэффициент неидеальности p–n-перехода затвор–канал | 1 | |||||
ISR | Параметр тока рекомбинации p–n- перехода затвор–канал | 0 | А | ||||
NR | Коэффициент эмиссии для тока ISR | 2 | |||||
ALPHA | Коэффициент ионизации | 0 | В | ||||
VK | Напряжение ионизации для перехода затвор–канал | 0 | В | ||||
RD | Объемное сопротивление области стока | 0 | Ом | ||||
RS | Объемное сопротивление области истока | 0 | Ом | ||||
CGD | Емкость перехода затвор–сток при нулевом смещении | 0 | Ф | ||||
CGS | Емкость перехода затвор-исток при нулевом смещении | 0 | Ф | ||||
M | Коэффициент лавинного умножения обедненного p–n-перехода затвор–канал | 0,5 | |||||
FC | Коэффициент нелинейности емкостей переходов при прямом смещении | 0,5 | |||||
PB | Контактная разность потенциалов p–n-перехода затвора | 1 | В | ||||
VTOTC | Температурный коэффициент VTO | 0 | В/![]() | ||||
BETATCE | Температурный коэффициент BETA | 0 | %/![]() | ||||
XTI | Температурный коэффициент тока IS | 3 | |||||
KF | Коэффициент, определяющий спектральную плотность фликкер–шума | 0 | |||||
AF | Показатель степени, определяющий зависимость спектральной плотности фликкер–шума от тока через переход | 1 | |||||
T_MEASURED | Температура измерений | ![]() | |||||
T_ABS | Абсолютная температура | ![]() | |||||
T_REL_GLOBAL | Относительная температура | ![]() | |||||
T_REL_LOCAL | Разность между температурой транзистора и модели-прототипа | ![]() |
Статические характеристики полевого транзистора. Они описываются следующими зависимостями.
Ток затвора равен
Ig = Igs + Igd,
где Igs = In+IrKg
– ток утечки затвор–исток,
Ins = IS·[exp(Vgs/(N·Vt) –1] – нормальный ток,
Irg = ISR· [exp(Vgs/(NR·Vt) –1] – ток рекомбинации,
Kgs = [(1–Vsg/PB)2+0,005]M/2 – фактор генерации,
Igd = Ind+Ird·Kgd+Ii – ток утечки затвор–сток,
Ind = IS· [exp(Vgd/(N·Vt) –1] – нормальный ток,
Ird = ISR· [exp(Vgd/(NR·Vt)-1] – ток рекомбинации,
Kgd = [(1–Vgd/PB)2+0,005]M/2 – фактор генерации,
Ii - ток ионизации, равный

Рис. 4.6. Нелинейная (а) и линейная (б) схемы замещения полевого транзистора с управляющим p–n-переходом и каналом n-типа |
Заметим, что полевой транзистор обедненного типа характеризуется отрицательными значениями VTO<0 (для каналов p- и n-типа), а транзистор обогащенного типа – положительными VTO

Токи стока и истока равны соответственно
Id = Idrain – Igd, Is = – Idrain
–Igs.
В нормальном режиме (Vds

рассчитывается по формулам:

где Vds – напряжение сток–исток, Vgd – напряжение затвор–сток. В инверсном режиме (Vds<0)

Емкости затвор–исток и затвор–сток описываются выражениями


Линейная схема замещения полевого транзистора. Схема приведена на рис. 4.6, б, где дополнительно включены источники флюктуационных токов. Тепловые шумы, создаваемые резисторами RS и RD, имеют спектральные плотности S


Источник тока Iш



Температурные эффекты характеризуются следующими зависимостями:
VTO(T)=VTO+VTOTC· (T – Tnom);
BETA(T)=BETA·1,01

IS(T)=IS·exp[EG(Tnom)/(N·Vt) ·(T/Tnom – 1)](T/Tnom)

ISR(T)=ISR·exp[EG(Tnom)/(NR·Vt) ·(T/Tnom–1)](T/Tnom)

PB(T)=PB·T/Tnom-3Vt·ln(T/Tnom) –EG(Tnom)·T/Tnom+EG(T);
CGS(T)=CGS{1+M[0,0004(T–Tnom)+1-PB(T)/PB]};
CGD(T)=CGD{1+M[0,0004 (T–Tnom)+1-PB(T)/PB]};
KF(T)=KF·PB(T)/PB, AF(T)=AF·PB(T)/PB.
Зависимость EG от температуры описана в разд. 4.1.
Скалярный коэффициент Area позволяет учесть параллельное соединение однотипных транзисторов, для чего в приведенной выше модели изменяются следующие параметры:
IS=IS·Area, BETA=BETA·Area, RD=RD/Area, RS=RS/Area, CGS=CGS·Area, CGD=CGD·Area.
Значение Area указывается в задании на моделирование при включении транзистора в схему (п. 3.2.6), по умолчанию Area=1.
В качестве примера приведем описание параметров модели транзистора КП303Е
.model KP303E NJF (VTO=-4.12 BETA=782.5u LAMBDA=9.13m
+ RS=21 RD=21 CGS=4.2pF CGD=3.8pF FC=0.5 PB=1 IS=10f)